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Ieee Design & Test期刊
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Ieee Design & Test

SCIE

《Ieee Design & Test》创刊于2013年，是一本工程技术国际学术期刊，出版语言为English，年发文量59。近三年曾被列入预警期刊名单。

中科院 4区
JCR Q3
Citescore 3.8
TOP期刊 否
ISSN: 2168-2356
出版地区: UNITED STATES
E-ISSN: 2168-2364
出版周期: 6 issues/year
出版商: IEEE Computer Society
创刊时间: 2013年
国际简称: IEEE DES TEST
出版语言: English
研究方向: COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
中文名称: IEEE设计与测试

Ieee Design & Test杂志简介

《Ieee Design & Test》由IEEE Computer Society出版社出版，是计算机：硬件领域的国际权威期刊。自2013年创刊以来，该刊始终致力于发表工程技术领域的原创性、前瞻性研究成果，尤其关注工程技术领域的理论、政策与实践。该刊被SCIE数据库收录，在JCR学科，按JIF指标学科分区学科“COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE”中位于Q3区；“ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC”中位于Q3区；按JCI指标学科分区学科“COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE”中位于Q3区；“ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC”中位于Q3区；中国科学院期刊分区为大类工程技术4区，小类计算机：硬件4区。此外，在CiteScore学科分类中，该刊在“Electrical and Electronic Engineering”小类中位列Q2区，排名354 / 797，显示出在计算机：硬件领域的突出影响力。

作为一本非开放获取期刊，《Ieee Design & Test》2023年发文量在59篇，研究类论文占比为100.00%。期刊最新影响因子为1.9 ，CiteScore为3.8，学术影响力持续稳健。该刊面向全球研究者，为探讨计算机：硬件领域提供了高水平的学术交流平台。

WOS期刊JCR分区（2023-2024年最新版）

按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q3 42 / 59

29.7%
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 211 / 352

40.2%
按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q3 40 / 59

33.05%
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 217 / 354

38.84%

CiteScore（2025年最新版）

CiteScore数据趋势图

  • CiteScore：3.8
  • SJR：0.489
  • SNIP：0.757
学科 分区 排名 百分位
大类：Engineering 小类：Electrical and Electronic Engineering Q2 354 / 797

55%
大类：Engineering 小类：Hardware and Architecture Q3 94 / 177

47%
大类：Engineering 小类：Software Q3 230 / 407

43%

Ieee Design & Test中国科学院期刊分区

中国科学院期刊分区趋势图

中国科学院期刊分区 （2023年12月升级版）

大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
工程技术
4区
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气
4区 4区
否 否

中国科学院期刊分区 （2022年12月升级版）

大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
工程技术
4区
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气
4区 4区
否 否

中国科学院期刊分区 （2021年12月旧的升级版）

大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
工程技术
3区
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气
4区 4区
否 否

Ieee Design & Test高引用文章

  • Edge Intelligence-On the Challenging Road to a Trillion Smart Connected IoT Devices Moving Artificial Intelligence from the Cloud Down to the Edge

    引用次数：8

  • ZeNA: Zero-Aware Neural Network Accelerator

    引用次数：7

  • Context-Aware Intelligence in Resource Constrained loT Nodes: Opportunities and Challenges

    引用次数：7

  • Hierarchical Electric Vehicle Charging Aggregator Strategy Using Dantzig-Wolfe Decomposition

    引用次数：7

  • A Survey on Security Threats and Countermeasures in IEEE Test Standards

    引用次数：6

  • Survey of Automotive Controller Area Network Intrusion Detection Systems

    引用次数：5

  • Voltage-Driven Building Block for Hardware Belief Networks

    引用次数：5

  • Quantum Computing Circuits and Devices

    引用次数：5

  • Design-for-Testability of On-Chip Control in mVLSI Biochips

    引用次数：5

  • CPU-FPGA Coscheduling for Big Data Applications

    引用次数：4

Ieee Design & Test学术指标

年份 影响因子 年发文量 引文指标 自引率 CiteScore
2023 1.9 - 59 - 0.44 - 0 - 3.8 -
2022 2 - 61 - 0.49 - 5 - 3.6 -
2021 2.223 - 61 - 0.51 - 1.9 - 3.3 -
2020 1.527 - 54 - - 0 - 4.2 -
2019 2.409 - 40 - - 2.8 - 4.8 -
2018 3.022 - 51 - - 2.9 - 3.9 -
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